基于FPGA和FT245的芯片功能测试装置的设计与实现
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国家自然科学基金项目(面上项目,重点项目,重大项目)


Design of IC chips functional test equipment Based on FPGA and FT245
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Fund Project:

The National Natural Science Foundation of China (General Program, Key Program, Major Research Plan)

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    摘要:

    设计芯片功能测试装置,以FPGA为控制单元,利用FT245实现FPGA与上位机的通信。上位机发送测试数据,然后采集被测芯片的输出响应并分析,与理论上正确的数据进行比较,得出结论。对于模拟芯片设计了A/D和D/A转换模块,调试的结果表明,测试装置可完成对常用芯片的功能测试。

    Abstract:

    We designed a device based on FPGA and FT245 for testing chips. Regard FPGA as the control core unit of the testing system. Use FT245 to achieve communications between FPGA and PC . PC sends down the test codes and then collects and analyses the output response datum. We can get the conclusion by comparing the collected datum from PC with theoretically correct datum. For analog chips, We designed the A/D and D/A conversion control modules. Eventually we have completed the real test and the whole task.

    参考文献
    相似文献
    引证文献
引用本文

凌伟. 基于FPGA和FT245的芯片功能测试装置的设计与实现[J]. 科学技术与工程, 2012, 12(36): .
lingwei. Design of IC chips functional test equipment Based on FPGA and FT245[J]. Science Technology and Engineering,2012,12(36).

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  • 收稿日期:2012-08-18
  • 最后修改日期:2012-09-05
  • 录用日期:2012-09-04
  • 在线发布日期: 2012-11-20
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